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原位冷熱臺

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XRD原位冷熱臺

XRD原位冷熱臺是X射線衍射儀的一款多功能變溫附件,可在-190℃至600℃或室溫至1200℃的寬溫度區間內,實現對樣品結構的高低溫XRD原位分析。

詳細介紹 技術參數

一、儀器介紹:

  XRD原位冷熱臺是X射線衍射儀的一款多功能變溫附件,可在-190℃至600℃或室溫至1200℃的寬溫度區間內,實現對樣品結構的高低溫XRD原位分析。

該設備支持在空氣、惰性氣氛或真空等多種環境條件下進行測試,適用于粉末、片狀等不同類型樣品在變溫過程中的結構演變研究。同時,該冷熱臺具備良好的兼容性,可根據用戶使用的X射線衍射儀型號(如布魯克、賽默飛、理學等品牌)定制樣品架,實現快速適配與集成。



二、儀器主要技術參數:

型號

CKL600-190-XR

CKR1200-XR

制冷方式

液氮制冷

加熱方式

電阻加熱

溫控方式

PID

溫度傳感器

PT100/熱電偶

溫控范圍

-190~600℃(可定制)

室溫~1200℃(可定制)

控溫精度

±0.1℃

升溫速率

0.1~20℃/min

降溫速率

0.1~20℃/min

樣品臺尺寸

23×23mm

樣品臺材質

不銹鋼

X射線透射膜

Kapton膜

光路

反射

外形尺寸

100×100×80mm

腔室結構

氣密

通訊接口

以太網(支持上位機軟件控制)


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